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EDX-GP 能量色散型X射線熒光分析裝置日本島津

能量色散型X射線熒光分析裝置日本島津

  • 型   号:EDX-GP
  • 價   格:

能量色散型X射線熒光分析裝置日本島津
次使用,也能輕松操作,操作簡便且以更高的精度進行微量分析,達到Z高靈敏度與Z佳分辨率的完美結合。

  标準配置RoHS/ELV/無鹵素分析所需的所有必要功能,用戶無需購買特殊選購件,使可以獲得Z佳RoHS/ELV/無鹵素分析系統

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能量色散型X射線熒光分析裝置日本島津 

EDX-GP 能量色散型X射線熒光分析裝置
 
 
 

EDX-GP  能量色散型X射線熒光分析裝置 本島

産品信息:

*次使用,也能輕松操作,操作簡便且以更高的精度進行微量分析,達到zui高靈敏度與zui佳分辨率的完美結合。 

  标準配置RoHS/ELV/無鹵素分析所需的所有必要功能,用戶無需購買特殊選購件,使可以獲得zui佳RoHS/ELV/無鹵素分析系統 。 

 

SET 1

操作簡便,一個指令即可開始全自動測定。 

測定條件的選擇過去一直依賴操作者的判斷,現在改由裝置自動判斷,即使初學者也可簡便·高精度地測定。 

 

 

 

 SET 2

放置樣品

 ●

将樣品放在分析位置,利用樣品圖像觀察裝置确認分析位置。

 ●

選擇分析區域。

 ●

關閉樣品室。

 

 

 

 

 

 

選擇分析條件/輸入樣品名稱

 ●

一個畫面中可以同時顯示樣品圖像、選擇分析條件、輸入樣品名稱。

 ●

點擊開始。

 

SET 3

 

 

 

能量色散型X射線熒光分析裝置日本島津 

 顯示分析結果

 ●

測定結束後,畫面上将清楚顯示5種元素的[合格判定]、[含量]、[3σ(測定偏差)]。

點擊即可顯示[結果列表]或[創建報告書]。

 

 

 

 

 

隻需1次點擊,便可根據預先登錄的分析條件, 

自動執行從測定到結果的一系列操作。 

 

 

 

■ 校準曲線自動選擇功能

 

 

 

不含有害元素時,測定過程中能夠判定結果時,即自動終止測定,縮短分析時間。

 

 

■ 省時功能

 

 

不含有害元素時 

不含有害元素時,測定過程中能夠判定結果時,即自動終止測定,縮短分析時間。

 ■ 适用省時功能的縮短時間示例

 

含量低于檢出下限值時,判斷不含有,測定自動結束。上述樣品中Pb、Cd的含量均低于檢出下限,與設定的200秒(=100秒+100秒)分析時間相比,僅用了50秒(=25秒+25秒)即結束分析,大幅度節約了時間。 

 

 有害元素含量高時

由設定的目标管理精度自動決定測定時間。 

在測定精度達到管理值時結束測定。 

■ 适用省時功能的縮短時間示例

測定高濃度元素時,在比設定的測定時間更短的時間内即可獲得高強度,而且誤差變小,由此可以大幅縮短時間。上述樣品中Pb:7600ppm、Cd:52ppm,設定的分析時間為200秒(=100秒+100秒),實際僅用了40秒(=15秒+25秒)即結束分析,大幅度節約了時間。 

 

 

 

本裝置配置了RoHS/ELV檢測中市場占有率zui高的EDX-720型的半導體檢測器、專用濾光片及高計數率電路。

 

 

 

 

 

 

為什麼需要高靈敏度?

能夠測定更微量的元素。 測定時間更短,因此相同時間内測定數量更多。 

 

 

■鹵素系列阻燃劑中微量Cd

 〔keV〕

 

  

 

 為什麼需要高分辨率?

可以減輕目标元素附近的其他共存元素的重疊影響。 

 

 

■ 鹵素系列阻燃劑中微量Pb

〔keV〕

 

  

 

 為什麼需要高精度?

在IEC提出的合格判定中,分析裝置的重現性對判定結果有很大的影響,重現性越好(即測定精度越高),合格判定的準确度就越高。 

 

 

 

 

 

 

 

 

利用專用濾光片提高靈敏度/還可以進行高靈敏度的無鹵素分析

标準配備了5種濾光片,可降低、除去形成背景成分的X射線管的散射線,提高檢測靈敏度。 本裝置在RoHS/ELV/無鹵素分析中會自動選擇3種zui合适的濾光片,進行高靈敏度測定。 

 

 

受X射線管Rh的特征X射線影響的Cl也可以測定

 微量成分:Cl(除去特征X射線)

 利用濾光片提高檢測靈敏度 

微量成分:Pb(背景降低) 

 

 

 濾光片條件靈活,滿足客戶要求 

如果您希望在短時間内對多個樣品進行測定,推薦使用單個濾光片進行高速分析。

 

 

<由單個濾光片進行高速分析> 測定時間:100秒 

 

 如果您希望對微量元素進行高靈敏測定,可以選擇各種專用濾光片進行高靈敏度分析。 

與單個濾光片高速分析相比,靈敏度約提高2~3倍。 

 

 

<由專用濾光片進行高靈敏度分析>

測定時間:300秒(100秒×3通道) 

 

 

 

 

EDX-GP标準配備了RoHS/ELV/無鹵素分析所需的所有必要功能,用戶無需購買特殊選購件,就可以獲得zui佳RoHS/ELV/無鹵素分析系統。

 

标準配置改變照射直徑的準直器&樣品圖像觀察組件

測定異物或者測定包含多個部位的樣品時,通過樣品圖像觀察組件在觀察樣品的同時,可以簡單的設定分析位置。測定小樣品或樣品中特定位置時,可以使用準直器,更改X射線照射區域。

(1, 3, 5, 10 mmφ)

10mmφ圖像(塑膠)

 

3mmφ(金屬)

  

 

 形狀校正功能 

即使含量相同的樣品,在形狀和厚度不同時,X射線強度将發生變化,得到的定量值也會受到影響,EDX-GP通過使用BG内标法*,可以排除形狀和厚度的影響,取得高精度結果。 

 

BG内标法 

通過散射X射線強度使各元素的X射線熒光強度标準化的一種校正方法。 

 

 

  

 測定結果列表管理

創建列表功能

已保存數據可以用Excel形式列表顯示。

 

 

超大樣品室可以對應各種樣品形态及大小。

 

采用超大樣品室 

zui大可以放置370mm長×320mm寬×155mm高的大型樣品,令緊湊型機身望塵莫及。

 

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