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UX-720 X射線熒光鍍層測厚儀

X射線熒光鍍層測厚儀

  • 型   号:UX-720
  • 價   格:

X射線熒光鍍層測厚儀 Ux-720:Ux-720新一代國産專業鍍層厚度檢測儀,采用高分辨率的Si-PIN(或者SDD矽漂移探測器),測量精度和測量結果業界L先。 采用了FlexFP-Multi技術,無論是生産過程中的質量控制,還是來料檢驗和材料性能檢驗中的随機抽檢和全檢,我們都會提供友好的體驗和滿足檢測的需求。

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X射線熒光鍍層測厚儀 Ux-720  華唯

 

   配置型号

探測器

X光管

高壓電源

Ux-720 M

AMPTEK Si-PIN X-123(進口)

上海科頤維(國産)

鹹陽威思曼(國産)

Ux-720 H

AMPTEK Si-PIN X-123(進口)

上海科頤維(國産)

spellman(進口)

Ux-720 S

AMPTEK SDD X-123(進口)

上海科頤維(國産)

spellman(進口)

 

産品指标:

測厚技術:X射線熒光測厚技術

測試樣品種類:金屬鍍層,合金鍍層

測量下限:0.003um

測量上限:30-50um(以材料元素判定)

測量層數:10層

測量用時:30-120秒

探測器類型:Si-PIN電制冷   

探測器分辨率:145eV

高壓範圍:0-50Kv,50W

X光管參數:0-50Kv,50W,側窗類;

光管靶材:Mo靶;

濾光片:專用3種自動切換;

CCD觀察:260萬像素

微移動範圍:XY15mm

輸入電壓:AC220V,50/60Hz

測試環境:非真空條件

數據通訊:USB2.0模式

準直器:Ø1mm,Ø2mm,Ø4mm

軟件方法:FlexFP-Mult

工作區:開放工作區 自定義

樣品腔:330×360×100mm

 

X射線熒光鍍層測厚儀 Ux-720産品介紹:

    Ux-720新一代國産專業鍍層厚度檢測儀,采用高分辨率的Si-PIN(或者SDD矽漂移探測器),測量精度和測量結果業界ling先。

    采用了FlexFP-Multi技術,無論是生産過程中的質量控制,還是來料檢驗和材料性能檢驗中的随機抽檢和全檢,我們都會提供友好的體驗和滿足檢測的需求。

    Ux-720微移動平台和高清CCD搭配,旋鈕調節設計在殼體外部,觀察移動位置簡單方便。

    X射線熒光技術測試鍍層厚度的應用,提高了大批量生産電鍍産品的檢驗條件,無損、快速和更準确的特點,對在電子和半導體工業中品質的提升有了檢驗的保障。

    Ux-720鍍層測厚儀采用了華唯zui新技術FlexFp -Multi,不在受标準樣品的限制,在無鍍層标樣的情況下直接可以測試樣品的鍍層厚度,測試結果經得起科學驗證。

    樣品移動設計為樣品腔外部調節,多點測試時移動樣品方便快捷,有助于提升效率。

    設計更科學,軟硬件配合,機電聯動,輻射安全高于國标GBZ115-2002要求。

    軟件操作具有操作人員分級管理權限,一般操作員、主管使用不同的用戶名和密碼登陸,測試的記錄報告同時自動添加測試人的登錄名稱。

 

Ux-720标準配件

樣品固定支架1支

窗口支撐薄膜:100張

保險管:3支

計算機主機:品牌+雙核

顯示屏:19吋液晶

打印機:噴墨打印機

 

Ux-720可選配件

可升級為SDD探測器

    可以實現全自動一鍵操作功能,準直器自動切換,濾光片自動切換,開蓋随意自動停,樣品測試照片自動拍照、自動保存,測試報告自動彈出,供應商信息自動篩選和保存 

 

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